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渦流測厚儀ED400使用說明書

作者:小京時間:2021-03-12 16:16:41 次瀏覽

使用說明書
渦流測厚儀
ED400
ED400產品說明書
致用戶:
感謝您購買本公司的產品。
ED400測厚儀是ED300型測厚儀的改進型
在操作上與ED300型測厚儀略有不同。
主要不同之處用粗斜體字標出,請留意。
在啟用儀器之前,應仔細閱讀本說明書。
如有任何疑問, 請致電本公司售后服務部。
本公司會提供必 要的幫助。
本公司提醒您:請注意保護好儀器探頭。
應避免使探頭受到碰撞;
避免探頭線受到強力拉扯;
避免探頭進水,
禁止向探頭內注油。
否則可能造成探頭的永久性損壞。
目錄

1、用途與原理
2. 儀器特點
3. 技術參數
4、儀器成套性
5.按鍵說明
6.測量操作
7.校正操作
8.注意事項
9.影響測量精度的因素
10.更換探頭
11.故障排除
12.  日常維護
用途與原理
ED400型渦流測厚儀是ED300型測厚儀的改進型,儀器性能大幅度提高。
本儀器用千測量各種非磁性金屈基體上絕緣性覆蓋層的厚度。主要用于測量鋁合金型材表面的陽極氧化膜或涂層厚度,還可用千測械其它鋁材料、鋁零件表面的陽極氧化膜或涂層厚度,以及其他有色金屬材料上絕緣性覆蓋層的厚度,測橄塑料簿膜及紙張的厚度。
本儀器可用千在生產現場、銷售現場或施工現場對產品進行快速、無損的膜厚檢查,可用千生產檢驗、驗收檢驗和質扯監督檢驗。
本儀器符合國家標準GB/T4957- 2003《非磁性金屈基體上非導電覆蓋層厚度測量渦流法》。
本儀器采用電渦流原理。當探頭與試樣接觸時,探頭線圓產生的高頻電磁場會在基 體金屬表面感應出渦 電流, 此渦電流產生的附加電磁場會改變探頭線圖參數,而探頭線圈參數改變顯的大小則決定千與涂層厚度相關的探頭 到基體之間的距離。儀器在校正之后通過對探頭線圈參數改變猛的測址,經過計算機處理,就可得到狻蓋層的厚度值。

儀器特征

ED400型渦流測厚儀與ED300型相比,具有如下特點:
  • 量程寬。ED400型的量程達 到0-500 µm。
  • 精度高。ED400型的測量精度 達到2%。
  • 分辨率高。ED400型的分辨率 達到0. 1 µm。
  • 校正簡便。只校正 " O" 和 " 50 µm " 兩點 , 即可在全量程范圍內保證設計精度。
  • 基體導電率影響小。當基體材料從純 鋁變化到各種鋁合金、紫銅、黃銅時,造成的測戳誤差不大于l ~ 2 µm 。
  • 可靠性提高。采用 了高集成 度、高穩 定性的電子器件, 電路結構優 化,儀器可靠性提高。
  • 穩定性提高。采用 先進 的溫度補償技術,測量值 隨環境溫 度的變化很小。儀器校 正一次可 在生產現 場長期使用。
  • 探頭線壽命長。采用 了德國進口的,在德國 測厚 儀上使用的探頭線,探頭線壽命可大大延長。
  • 探頭芯壽命長。采用高強度磁 芯材料, 微調了探頭設計 , 探頭芯壽命可大大延長。
  • 探頭可互換。采用 了外接式探頭,探頭損壞后,使用者可自行更換備用探頭,無需返廠維修。
  • 包裝改進。采用 了大型包裝箱 , 更精致 , 防震效 果更好。
技術參數
測量范圍: 0~ 500 µm
測盎精度: 0~ 50 µm: 土1 µm ;50~ 500 µm : 土 2%
分 辨 率: 0- 50 µm: 0. 1 µm、50- 500 µm: 1µm;
0- 500 µm: 1µm (可選)
使用溫 度: 5- 45'C
電     源: 一節9 V層疊電池功耗:  8 0mw
外形尺寸: 150mmX 80mmX 30mm
重     顯: 260 g


儀器成套性

標準配置
主機一臺探頭 一支
校正基體一塊 ( 6063 鋁合金)
校正笚片一片(約50 µm, 附檢測報告) 使用說明書一份
合格證一份
保修單一份
手提式儀器箱 一個可選附件
備用探頭
基體
校正箱片(約50 µm , 附檢測 報告)

按鍵說明

電源— 電源開關鍵 。用千開啟或關閉電源。
統計—統計鍵。用千順序讀取一組測量數據的平均值、最大值、最小值、標準偏差和測量次數。
清除—刪除鍵。用千刪除當前測量值或一個校正步驟。校正一校正鍵。用于校正儀器。
“   ”— 下調鍵。在校正狀態時,用千將顯示值調低。" .A." — 上調鍵。在校正狀態時, 用千將顯示值調高。組合鍵一兩個 按鍵配合使用可得到新功能。如表1.
表1
按鍵組合 功能說明
消除+統計 復位 : 恢復出廠 設罰
統計+ " ..." 激活蜂鳴音
統計+ ” " 消除蜂鳴音
校正+ ” " 顯示小數( 0- 5 0 µm )
校正+ ” “ 顯示整數 ( 0- 5 00 µ m)
注· 組合鍵的使用方法·按住組合鍵,松開。儀器顯示"--- " 之后顯示 "O" 或 "00" ,功能設定完成。

測量操作

按電源開關鍵,接通電源,儀器開始執行自檢程序, 顯示所有符號后發出一聲鳴音, 顯示 " O" 或 " O. O" 。儀器進入測量狀態。此時可直接進行測量操作。
操作步驟如下:

測量
手持探頭的塑料部分, 將探頭平穩、垂直地落到清潔、干燥的試件上, 儀器鳴叫一聲, 顯示出膜厚值(測量時用力不要過大, 以免損傷探頭)。抬高探頭,重新落下,可完成下一次測量。探頭抬高的高度應大于10mm,待續時間應大千2秒鐘。一般每一測量點應測暈5~ 10次, 然后讀取統計數據 。
統計
按動統計鍵可依次循環顯示以下統計數據:
MEAN —平均值MAX—最大值MIN—最小值
s — 標準偏差
N — 測量次數
再次測最時, 可直接進入下一組測量數據。

刪除
在測量過程中,如果因為探頭放置不穩或其它原因,出現了一個明顯錯誤的測量值, 可按動刪除鍵將其刪除,不計入統計。在校正狀態下,按動一次刪除鍵可刪除最后一個測量值,按動兩次刪除鍵可刪除此校正步驟所有測鼠值。

關機
測量完畢,按電源鍵關閉儀器電源。停止操作1分30秒后,儀器會自動關閉電源。
電池
儀器有欠壓提示功能,當電池電壓不足時,顯示"LOBAT" , 此時應在10分鐘 之內 結束測暈, 更換電池。電池電壓過低時,儀器會自動關機。
校準操作

本儀器不必每次使用前都做校正。對千長期沒有使用過、長期沒 有校正過、明顯失準、執行了“ 復位” 操作及更換了探頭的儀器, 應進行校正操作。
校正時應使用隨機附帶的基體(或無涂層的產品試塊)和校正笥片?;w和校正箱片應經過仔細的清潔處理。在校正狀態下, 每次測量時探頭應盡量落到同—區
域, 手法上要輕、要穩 ,出現明顯誤差時應利用刪除鍵 將其刪除。
校正操作分為單點校正和兩點校正。
使用者可以根據 實際情況或自己的使用 經驗選擇執行單點校正或兩點校正。儀器更換探頭后必須進行一次兩點校正。校正操作應在開機1分鐘后執行。
單點校正
單點校正就是校正零點,只需要使用基體。
按校正鍵, 儀器進入校 正狀態, 顯示器顯示 " ZERO"
和 " O. O" 。
  1. 2 在基體上測量10次以上 , 顯示器顯示 " MEAN" 和各次測量的平均值。
  2. 7.1.3 連續按動兩次校正鍵, 儀器存入新的零點值, 退出校正狀態, 顯示 "--- " 之后, 顯示 " O" 或 " O. O" ,  進入測量狀態。
  3. 兩點校正
  4. 兩點校正是校正零點和一個已知點。兩點校正應使用基體和隨機附帶的 厚度約50 µm的校正箱片。
  5. 按校正鍵, 儀器進入校正狀態,顯示器顯示 " ZE RO"
  6. 和 " 0. 0"。
  7. 在基體上測量10 次以上,顯示器顯示 " MEAN" 和各次測最的平均值。
  8. 按校正鍵,儀器存入新的零點值, 顯示 " STDl " 和
  9. " 0. 0"。
  10. 將厚度值約為5 0 µ m的校正箱片放 到基體上, 在圓圓內測最10 次以上 , 顯示器顯示 " MEAN" 和各次測量的平均值。
  11. 用上調鍵" ..&." 或下調鍵 " T " 將顯示值調到校正笚片的厚度值。(注:第 一次按動上渭健 "-"" ,, 威下渭健 ",,”時 ,顯示僮均為50. 0。此后,顯示值隨著上調健威 下調健增減。)
  12. 按校正鍵, 儀器存入新的校正值, 退出校正狀態, 顯示 "---" 后, 顯示 " O" 或 " O. O" , 進入測量狀態。
注意事項
為盡暈提高測噩精度,在儀器的使用中應注意如下兩點:
  1. 1在每天使用儀器之前,以及使用中每隔一段時間(例如,每隔l小時),都應在測量現場對儀器的校正進行一次核對,以確定儀器的準確性。一般只要在基體或無膜產品品試塊上檢查一下儀器零點即可,必要時再用校正箱片檢查一下校正點,當誤差大千1µm時應對儀器進行校正。
  7.2 在同一試樣上進行多次測蜇,測量值的波動性是正常的,涂層局部厚度的差異也會造成測暈值的波動。因此,在一個試樣上應測量多點,每一點測蜇多次后取平均值作為該點的測最值,各點測最值的平均值作為試樣的膜厚值。

影響測量精度因素

根據國 家標準GB/ T4957-2003 《非磁性金屬基體上非導電覆蓋層厚度測鼠渦流法》, 下列因素會影響測量精度。
覆蓋層厚度
測量的不確定度是渦流測厚方法固有的特性。對千較薄的覆蓋 層(例如:小千25µm),測量不確定度是一恒定值,與覆蓋層的厚度無關,每次測量的不確定度至少是0.5 µ m。對千本儀器,這一不確定度為0.5µm~ lµm。對千厚度大千25µ m的較厚覆蓋層,測量的不確定度與覆蓋層厚度有關,是覆蓋層厚度的某一比值。對千本儀器,這一不確定度是覆蓋層厚度的2%。
對千厚度小千或等千5µm的覆蓋層,厚度值應取幾次測量的平均值。
對千厚度小千3µm的覆蓋層,不能準確測出膜厚值。

基體金屬的導電率
渦流測厚方法的測罣值會受到基體金屬導電率的影響。金屬的導電率與其 材料的成分及熱處理有關。導電率對測量的影響隨儀器的生產廠和型號的不同有明顯差異。本儀器的測量受基體金屬導電率的影響很小。
基體金屬的厚度
每臺儀器都有一個基體金屬的臨界厚度值,大千這個厚度,測暈值將不受基體金屈厚度增加的影響。這一臨界厚度值取決于儀器探頭系統的工作頻率及基體金屬的導電率。本儀器的臨界厚度值大約是0.3~ 0.4mm。
將基體金屬厚度低于臨界值的試樣與材質相同、厚度相同的無涂層材料疊加使用是不可靠的。

邊緣效應
渦流測厚儀對千試樣表面的不連續敏感。太靠近試樣邊緣的測量是不可靠的。如果一定要在小面積試樣或窄條試樣上測量,可將形狀相同的無涂層材料作為基體重新校正儀器。對千本儀器,當測量面積小于150m曠或試樣寬度小千12mm時,應在相應的無涂層材料上重新校正儀器。
曲率
試樣曲率的變 化會影響測屈值。試樣曲率越小,對測量值的影響就越大。對千本儀器,當測量直徑小千50mm的試樣時,應在相同直徑的無涂層材料上重新校正儀器。
表面粗糙度
基體金屈和覆蓋層的表面粗糙度對測量值有影響。在不同的位置上進行多次測量后取平均值可以減小這一影響。如果基體金屬表面粗糙,還應在涂覆前的相應金屬材料上的多個位置校正儀器零點。

探頭與試樣表面的緊密接觸
測厚儀的探頭必須與試樣表面緊密接觸 , 試樣表面的灰塵和污物對測量值有影響。因此,測量時應確保探頭前 端和試樣表面的清潔。
當對2片以上已知精確厚度值的校正笚片進行疊加測量時, 測得的數 值要大千校 正箱片 厚度值之 和。箱片越厚、越硬, 這一偏差就越大。原因是銷片的疊加影響了探頭與笚片及銷片之間的緊密接觸。

探頭壓力
測量時,施加千探頭的壓力對測量值有影響。本儀器在探頭內有一恒壓彈簧,可保證每次測噩時探頭施加千試樣的壓力不變。
探頭的垂直度
儀器
測量時,探頭應小心垂直落下,探頭的任何傾斜或抖動都會使測鼠出錯。
探頭的溫度
溫度的變化會影響探頭參數。因此,應在與使用環境大致相同的溫度下校正儀器。本儀器進行了良好的溫度補償,溫度變化對測晝值的影響很小。

更換探頭

儀器探頭是外接式的,探頭通過一個連接器連接到儀器上。探頭損壞時需要卸下舊探頭,換上備用的新探頭。一個金黃色連接器,在靠近機殼的部分有一個六邊形
螺母,探頭的拆卸和安裝都是通過旋動這個螺母完成的。探頭的更換方法如下:
卸下探頭。反時針旋轉六邊螺母,同時保持探頭的其它部分不旋轉,大約旋轉五閣,即可卸下探頭。
安裝探頭。將探頭的插頭壓在插座上,正時針旋轉六邊螺母,同時保持探頭的其它 部分不旋 轉, 大約旋轉五圈,旋緊。這樣就完成了探頭的安裝。


故障排除

故障現象、原因及解決方法儀器常見的故障現象、故障原因及解決方 法見表2.
 
  故障原因 解決方法
 
 
開機無顯示或突然關閉
儀器自動關閉 按開關鍵
無電池或電池沒按好 接上電池
電池耗盡 更換電池
電池扣斷線 聯系維修
顯示器對測
屈無反應
膜層太厚 檢查被測件
探頭故陌 更換新探頭
開機后顯示
全部符號不變
 
探頭或電路故陌
更換新探頭或聯系維修
 
 
 
 
 
 
測址值明顯出錯
由千曲率或測從面積小而影響測拭精度 在相同形狀或大小的無膜試樣上重新校正
校正錯誤 重新校正
測阰動作不穩 按刪除鍵
 
校正數據混亂
執行復位橾作井重新校正
探頭損壞 更換探頭
更換了探頭 重新校正
不能關機 電路故陌 聯系維修
 
表2故障現象
故障信息
表3
故陓信息
含義 處理方法
 
E4
探頭沒接好、探頭損壞或電路故陌 重新連接探頭、更換探頭或聯系維修
E5 探頭故陷 更換探頭
E6 超址程 重新校正
E7 校正錯誤 重新校正
 
儀器顯示的故障信息見 表3.
復位
由千校正錯誤造成的測量數據混亂,可以通過執行
“復位” 操作來消除 。
開機后同時按刪除鍵和統計鍵,儀器顯示"---" 后,顯示 "O" 。復位操作完成,回到出廠設置。
復位后,應重新執行兩點校正操作。


日常維護


1儀器使用完畢后,應放入儀器箱中保存,避免受到沖擊和污損。
2儀器長時間不使用時,應取出電池,以免電池漏液,腐蝕儀器。
3探頭應保持清潔,被測件上的污物和灰塵應在測量前清除掉。在生產線上使用時,應擦干試件后再測量,絕對不允許電解液或水流入探頭內,也不允許向探頭內注油,由此原因造成的探頭銹死或損壞,本公司將不負責免費維修。
4儀器如發生故障,請立即與本公司聯系維修,上海京工將竭誠為您服務。
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